清华大学材料科学与工程研究院《材料科学论坛》学术报告

报告时间：2025年10月29日下午16:00

报告人：李桃教授（西安交通大学）

报告地点：清华大学逸夫技术科学楼A205学术报告厅

邀请人：王轲老师

报告题目：铁电材料与器件性能的纳米尺度探测分析

报告摘要：

为满足器件小型化的需求，超薄铁电材料的开发与应用成为近年来铁电存储器与逻辑器件的核心研究内容之一。然而，这些纳米乃至原子尺度薄膜材料常伴有压电响应弱、漏电流高等问题，导致探测其本征铁电性（如压电响应、极化翻转、畴壁运动）极具挑战。因此，以压电力显微镜（PFM）为代表的扫描探针技术（SPM）已成为表征此类材料及相关器件不可或缺的核心工具。本报告将聚焦铁电超薄膜（如铁电金属、范德华铁电、钙钛矿及铪基铁电材料），系统介绍扫描探针技术在其铁电性表征以及微观机制研究中的前沿应用，并深入探讨实验优化、信号分析、伪影（artifects）的识别与规避以及该技术领域的未来发展趋势。

报告人简介：

李桃，教授，国家级青年人才,现任职于西安交通大学材料科学与工程学院自旋电子材料与量子器件研究中心。分别于2009年、2013年获新加坡国立大学学士与博士学位，2014至2018年先后于美国内布拉斯加大学林肯分校与新加坡国立大学开展博士后研究。主要研究领域为后摩尔非易失存储器件，长期运用多物理场原位表征方法，围绕空间结构与多种物性的内在关联，进行新材料开发以及器件性能调控。牵头承担国家重点研发计划青年科学家项目等国家级、省部级项目以及华为海思等横向课题。在Nat. Mater.、Nat. Commun.、Sci. Adv.、Adv. Mater.、Nano Lett.等国际学术期刊发表SCI论文80余篇,授权中国发明专利7项。